GE检测控制技术推出trueDGS斜探头

作者:本网编辑 发布时间:2011-05-30
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日前,GE检测控制技术业务部门利用最新的专利技术trueDGS,使超声斜探头在使用的DGS方法下提高了定量精度。DGS方法作为一种探测间断点的定量技术,在欧洲和世界许多国家都制定了标准(如EN 583-2)。新型的斜探头的DGS精度和圆形晶直探头一样,可作为单晶片探头和相控阵探头,应用于对精度、兼容性及超声检测有一定要求的工业领域。

目前,斜探头主要使用DGS技术,探测和定量物料缺陷,DGS技术依赖于DGS算法。超声检测员在他的缺陷探测仪上能看到缺陷迹象提示,将之与DGS曲线匹配,就能确定与缺陷等价的反射物的大小。DGS方法最初从直探头发展起来,使用圆形晶直探头。现在单晶片探头和超声相控阵探头因为折射原因,与直探头相比,具有不同的超声探测特性,在DGS评估中会有偏差。随着新一代trueDGS斜探头的发展,这一问题得到解决。新型探头的模型是用给定的圆形晶直探头计算的,在给定入射角和延长线长度的条件下,将探头中所有声波的特性转移到斜探头中。由此产生的点云形状决定了trueDGS斜探头的传感器模型。CAD建模后,就能进行trueDGS的制造,极大地提高了其与相应DGS算法的匹配程度。同样的道理也适用于相控阵探头。因此,使用DGS的超声检测要精确得多,减少了误判或者返工。具有trueDGS技术的斜探头将延续最盛行的MWB系列探头的优势,并且GE所有与此相关的探伤仪都将包含相关软件。

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