翁开尔将参展2013年汽车测试及质量监控博览会

文章来源：弗戈工业在线发布时间：2013-09-05

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翁开尔将参展2013年汽车测试及质量监控博览会。

翁开尔将于9月10日-9月12日参加在上海光大会展中心举行的2013汽车测试及质量监控博览会。届时，将向业界介绍更多领先的测试设备和测试服务，并提供更多的应用于汽车行业的仪器资讯!拟展示以下产品：

美国Q-Lab公司的Q-SUN氙灯老化机、QUV紫外光耐候试验机及Q-FOG盐雾箱

美国Taber公司的磨耗测试仪;日本柯尼卡美能达公司的分光测色仪

德国Lau公司的便携式抗石击仪;德国Anseros公司的臭氧试验箱;

德国Binder公司的环境模拟箱;德国Sita的金属表面清洁度仪;

翁开尔公司的MTG耐碎石冲击试验机;

2013 汽车测试及质量监控博览会(中国)(Automotive Testing Expo China 2013)将比历届展会介绍更多参展商和技术。占据上海光大会展中心两层展厅的汽车测试及质量监控博览会(中国)，将借助新车销售的快速增长，以及市场对更高质量和更安全的汽车的需求，举办一场繁忙的三天盛会!我们一如既往地参加本届汽车测试展，诚意邀请您共赴盛会。

展会名称：2013汽车测试及质量监控博览会(中国)

展出时间：2013年9月10~12日

展台号： TXC1000